Productos

1270, 1271 TARJETA X-Y HiTESTER

Los modelos 1270 y 1271 son probadores sin tablero, de doble cara y con panel desnudo que brindan un rendimiento de costo superior. Usando un total de cuatro brazos, dos delante y dos detrás, es capaz de probar simultáneamente ambos lados de una placa opcional, y está disponible con una función de medición de resistencia de 4 terminales que permite la medición de resistencias muy pequeñas en IVH o en agujeros pasantes .

Consultar informacion del producto






SKU: HIOKI_1270, 1271_TARJETA_X-Y_HiTESTER Categoría: Etiqueta:

Descripción

Pruebas de resistencia de IVHs y agujeros pasantes (medición opcional de baja resistencia de 4 terminales)
Medición de constantes de elementos integrados con medición L, C, R y D
• Pruebas de alta velocidad de hasta 0.012 seg./step mientras se mantiene un alto nivel de precisión
• Alta resolución de 5 aF para garantizar la detección confiable de cambios mínimos en capacitancia causados por defectos (1 aF = 10 ^ -6 pF)
• Sonda confiable de almohadillas de minutos de paso fino gracias a un diámetro mínimo de almohadilla de 20 mm
• Soporte para pruebas de resistencia dieléctrica de aislamiento con tensiones de prueba de hasta 250 V (característica opcional)

Los modelos 1270 y 1271 son probadores sin tablero, de doble cara y con panel desnudo que brindan un rendimiento de costo superior. Usando un total de cuatro brazos, dos delante y dos detrás, es capaz de probar simultáneamente ambos lados de una placa opcional, y está disponible con una función de medición de resistencia de 4 terminales que permite la medición de resistencias muy pequeñas en IVH o en agujeros pasantes .

Características principales
• Prueba simultánea de doble cara con un total de 4 brazos (2 frontales, 2 posteriores)
• Detección de defectos invisibles, como grietas, gracias a la función de medición de baja resistencia del pin (característica opcional)
• Amplias capacidades de prueba además de la prueba de continuidad y la medición de capacitancia:
Corta y rompe las pruebas usando el método de prueba de aislamiento y continuidad
Corto y romper la prueba utilizando el método de prueba CR
Prueba de cortocircuito y ruptura usando el método de medición de capacitancia